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簡(jiǎn)要描述:NANOS 臺(tái)式掃描電鏡 NANOS是一款全面且高性?xún)r(jià)比的臺(tái)式掃描電子顯微 鏡(SEM)。它采用zui新技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì),提供快速高 質(zhì)量的SEM成像和元素分析。它的設(shè)計(jì)先進(jìn)且現(xiàn)代, 非常適合科學(xué)研究、產(chǎn)品研發(fā)和工業(yè)用戶(hù)使用。
• 標(biāo)配高性能二次電子及4分割背散射探頭
• 一體集成式EDS探頭,成像同時(shí)采集EDS結(jié)果
• 標(biāo)配低真空模式成像功能
• 全自動(dòng)馬達(dá)控制及優(yōu)中心傾轉(zhuǎn)設(shè)計(jì)樣品臺(tái)
• 配備性能優(yōu)化燈絲
• 直觀友好用戶(hù)界面設(shè)計(jì)
• 低維護(hù)成本
NANOS以高性?xún)r(jià)比提供高分辨率SEM成像和同步快速 元素分析(EDS)功能于一體,安裝簡(jiǎn)單、使用及維護(hù) 方便。
NANOS 臺(tái)式掃描電鏡
NANOS是一款全面且高性?xún)r(jià)比的臺(tái)式掃描電子顯微 鏡(SEM)。它采用zui新技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì),提供快速高 質(zhì)量的SEM成像和元素分析。它的設(shè)計(jì)先進(jìn)且現(xiàn)代, 非常適合科學(xué)研究、產(chǎn)品研發(fā)和工業(yè)用戶(hù)使用。
探測(cè)器
NANOS標(biāo)配二次電子探測(cè)器(SED)和背散射電子 探測(cè)器(BSD)。BSD具有4象限檢測(cè)功能。通過(guò)使 用不同區(qū)域信號(hào)的組合,能夠?qū)崿F(xiàn)樣品的成分或形貌 細(xì)節(jié)du立成像,以及通過(guò)從多個(gè)方向突出顯示表面而 具有“投影成像效果”的圖像。
元素分析
NANOS配備了一體式集成硅漂移能量色散X射線探測(cè) 器(EDS) 。通過(guò)用戶(hù)界面,用戶(hù)可以選擇EDX點(diǎn)分析 或?qū)崟r(shí)元素面掃描。
優(yōu)中心樣品臺(tái)
NANOS是臺(tái)式掃描電鏡中wei一一家標(biāo)配優(yōu)中心設(shè)計(jì) 樣品臺(tái),能夠通過(guò)用戶(hù)控制界面實(shí)現(xiàn)電動(dòng)XY軸樣品 臺(tái)移動(dòng),在SEM成像模式下可采用優(yōu)中心設(shè)計(jì)樣品臺(tái) 傾轉(zhuǎn)實(shí)現(xiàn)樣品傾斜觀察,且樣品始終保持聚焦?fàn)顟B(tài), 無(wú)需重新對(duì)焦,用戶(hù)界面實(shí)時(shí)顯示jing確樣品臺(tái)傾斜角 度,zui大傾斜角度為55°。
導(dǎo)航相機(jī)
NANOS在進(jìn)樣時(shí),標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航相機(jī)會(huì)自動(dòng)對(duì)樣品 進(jìn)行拍照實(shí)現(xiàn)樣品精準(zhǔn)導(dǎo)航。即便在高倍下,用戶(hù)可 以輕松確定樣品位置。
低真空成像
NANOS標(biāo)配低真空成像功能,低真空成像模式能 夠有效減少或消除樣品荷電對(duì)成像的影響。當(dāng)在高 真空模式下觀察不導(dǎo)電的樣品時(shí),電子積聚在樣品 表面,會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重荷電現(xiàn)象,影響樣品觀察。
用戶(hù)操作界面
NANOS軟件界面始終將SEM圖像放在屏幕的中心, 通過(guò)直觀的軟件界面進(jìn)行簡(jiǎn)單設(shè)置,即可完成樣品拍 攝。該軟件為僅需快速簡(jiǎn)單SEM成像的人提供簡(jiǎn)易模 式,同時(shí)也為深入進(jìn)行樣品分析需求提供gao級(jí)模式。 用戶(hù)可以通過(guò)無(wú)線鼠標(biāo)和鍵盤(pán)完全控制NANOS,并 可以通過(guò)iPad實(shí)現(xiàn)設(shè)備遠(yuǎn)程操控。導(dǎo)航攝像頭 (NavCam)始終處于啟用狀態(tài),能夠確保用戶(hù)準(zhǔn)確 知道觀察樣品的對(duì)應(yīng)位置。
主要技術(shù)特點(diǎn)
豐富的標(biāo)準(zhǔn)配置: NANOS標(biāo)配二次電子探頭(SED)、四分割高性 能背散射探頭(BSD)、一體式集成EDS和優(yōu)中 心設(shè)計(jì)樣品臺(tái)。
設(shè)計(jì)精良:
NANOS采用了可靠的現(xiàn)代設(shè)計(jì),并采用了zui新的 成像技術(shù)和成分分析探測(cè)器。
售后維護(hù)方便:
NANOS的設(shè)計(jì)使您可以輕松進(jìn)行維護(hù)和升級(jí),這 些維護(hù)和升級(jí)可以在您的場(chǎng)所完成,無(wú)需售后工程 師上門(mén)。
可靠性高:
憑借出色的穩(wěn)定性和較小的占地面積,NANOS的 架構(gòu)確保了它可以在非實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中使用,滿足各 種現(xiàn)場(chǎng)工況成像需求。
多操作模式選擇:
在基礎(chǔ)模式下,無(wú)需操作經(jīng)驗(yàn),NANOS都能在短 時(shí)間內(nèi)完成掃描電鏡成像分析。高級(jí)模式為詳細(xì)分 析提供了進(jìn)一步的功能。
覆蓋1kV至20kV可調(diào)加速電壓,可確保高速EDS分析和 面掃,準(zhǔn)確識(shí)別樣品中的元素成分及含量。
設(shè)備維護(hù)
NANOS的開(kāi)發(fā)以zui佳售后服務(wù)體驗(yàn)為核心,采用可拆 卸面板、模塊化組件設(shè)計(jì) 、整機(jī)僅需一塊控制板和少 量移動(dòng)部件構(gòu)成,可將售后服務(wù)要求降至最低。 NANOS的du特之處在于真空室內(nèi)沒(méi)有移動(dòng)部件,由于 這種巧妙的設(shè)計(jì),樣品污染的風(fēng)險(xiǎn)大大消除。
電子光源
NANOS采用強(qiáng)大的熱發(fā)射鎢燈絲電子源,由電磁線圈 透鏡和靜電偏轉(zhuǎn)器控制實(shí)現(xiàn)電子束掃描。使用“eco” 設(shè)置,燈絲壽命可以延長(zhǎng)數(shù)百小時(shí),并且仍然可以生 成高分辨率圖像。任何用戶(hù)都可以du立用很簡(jiǎn)單的對(duì) 準(zhǔn)工具更換燈絲,確保zui短的停機(jī)時(shí)間。無(wú)需等待服 務(wù)工程師來(lái)上門(mén)更換。
技術(shù)參數(shù)
圖像模式 |
光學(xué) |
放大倍數(shù)范圍: 2 – 12x |
電子束 |
放大倍數(shù)范圍: 50 – 200,000x |
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分辨率 |
<8 nm |
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成像方式 |
光學(xué) |
明場(chǎng) |
電子束 |
優(yōu)化鎢燈絲 (tungsten) |
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加速電壓 |
默認(rèn): 1, 2, 5, 7, 10, 15 & 20 kV,可調(diào)范圍介于1和20kV之間 |
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探測(cè)器 |
二次電子探測(cè)器 (SED) |
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4分割被散射電子探測(cè)器 (BSD) |
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一體化集成X射線探測(cè)器(EDS) |
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數(shù)字成像控制 |
集成式彩色數(shù)字導(dǎo)航相機(jī) |
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圖像存儲(chǔ)格式 |
JPEG, TIFF, PNG, BMP |
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用戶(hù)界面 |
通信、成像和及分析均由通過(guò)無(wú)線鼠標(biāo)和鍵盤(pán)進(jìn)行控 制的單個(gè)窗口軟件即可 支持遠(yuǎn)程控制(如iPad) 支持基礎(chǔ)以及gao級(jí)模式 |
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數(shù)據(jù)存儲(chǔ) |
網(wǎng)絡(luò)、USB、zhuan用工作站 |
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樣品臺(tái) |
優(yōu)中心樣品臺(tái),傾轉(zhuǎn)范圍-15°~+40° |
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馬達(dá)控制X、Y軸移動(dòng)范圍: 25 X 25 mm |
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樣品尺寸 |
25 mm 直徑釘臺(tái),zui大支持60 mm 直徑 |
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EDS 參 數(shù) |
探 測(cè) 器 類(lèi) 型 |
Si漂移探測(cè)器 (SDD), 電制冷 |
探測(cè)窗口面積 |
30 mm2 |
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能量分辨率 |
@ Mn Kα < 127 eV |
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最大計(jì)數(shù)率 |
300,000 cps |
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硬件集成 |
一體嵌入式,直接集成于NANOS 用戶(hù)界面 |
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軟件 |
EDS分析以及面掃描 結(jié)果導(dǎo)出功能 |
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系統(tǒng)參數(shù) |
主機(jī)尺寸 |
280mm (w) x 630mm (d) x 550mm (h) |
重量 |
60 kg |
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真空泵 |
無(wú)油真空泵以及渦輪分子泵 |
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真空模式 |
高真空模式(傳統(tǒng)SEM)低真空模式0.4mbar(低真空SEM) 通過(guò)用戶(hù)界面控制真空度 |
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工作站 |
帶有27英寸顯示器的預(yù)配置一體機(jī)。 安裝SEM成像和EDS分析軟件 |
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